SJT 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分 激励电平相关性(DLD)的测量
|
ID： |
9AD13426A0EC4DEBBD2C92D28574CF83 |
|
文件大小(MB)： |
0.29 |
|
页数： |
16 |
|
文件格式： |
|
|
日期： |
2009-6-12 |
|
购买： |
文本摘录（文本识别可能有误，但文件阅览显示及打印正常，pdf文件可进行文字搜索定位）：
SJ,中华人民共和国电子行业标准,SJ /T 11212一1999,idt IEC444-6: 1995,石英晶体元件参数的测量,第6部分:激励电平,相关性(DLD)的测量,Measurement of quartz crystal unit paramenters一,Part6 : Measurement of drive level dependence (DLD,1999一0s一26发布1999一12一01实施,中华人民共和国信息产业部发布,目次,前言,IEC前言,IEC序言,1总则，，，，，，，‘，。，‘，，，，，，.. (1),1.1 范围，. (1),1.2 引用标准，，，，.. (1),2 DLD效应‘，，，，4，-，，，，‘“ 。。一(2),2.1频率和电阻的可逆变化，，，，，。，，..(2),2.2频率和电阻的不可逆变化，，，，，1.. (2),2.3 DLD效应的原因，，，.. (2),3 DID测量的激励电平，，.( 2),4 试验方法，，，，。，，，，，，，。.. (3),4.1 试验方法A(二型网络法) ，‘，，，，，，.. (3),4.2 试验方法B(振荡器法) ..，，.. (4),附录A(标准的附录) 石英晶体元件的激励电平和机械位移之间的关系，.. (10),前言,本标 准 等 同采用国际电工委员会IEC444一6: 1995《石英晶体元件参致的MR 第6X,分:激励电平相关性(DID)的测量》,这 样 .使 我国石英晶体元件参数测量的电子行业标准与IEC石英晶体元件参数的侧A标,准相一致，以适应此领域中国际技术交流和经济贸易往来迅速发展的需要，便于我国生产的,这类产品质量水平达到国际通用要求并在国际市场流通,本标 准 与 下述五项电子行业标准构成石英晶体元件参数测量的完整系列标准,SI/ Z 9 15 4.1-8 7 用二型网络零相位法测量石英晶体元件参数的第一部分:用二型网络,零 相 位 法 测 量 石 英 晶 体 元 件 谐 振 频 率 和 谐 振 电阻的基本方法(idt,IEC 44 4 一1 : 1 9 86 ),SI/ Z9 15 4.2一87 用二型网络零相位法测量石英晶体元件参数第二部分:测量石英晶体,元件 动 态 电 容 的 相 位偏 置 法 ( id t IEC 44 4一 2: 1 980 ),Si/ Z9 15 4.3- 8 7 用二型网络零相位法测量石英晶体元件参数第三部分:利用有并电容,场 补偿 的 二 型 网 络 相 位法 测 量 频 率 达 20 0M Hz 的石英晶体元件两端网,络参 数 的 基 本 方 法 (i dt IE C4 44 一3 : 1 9 86),SY T 1 1 210一199!〕石英晶体元件参数的侧it 第四部分:频率达30MHz石英晶体元件,负载 谐 振 频 率 五 和 负 载 谐 振 电阻 凡 的测 kl 方 法及其他导出参数的,计算 (id t IE C4 44 一4 : 1 98 8),SV T 1 1 211-1 999 石英晶体元件参数的测t 第5部分:采用自动网络分析技术和误,差校 正 确 定 等 效 电 参数 的 方 法 ( idt IEC 44 4一 5: 1 995),本 标 准 由电子工业部标准化研究所归口,本 标 准 由电子工业部标准化研究所负责起草,本 标 准 主要起草人:邓鹤松、章怡、宋佩任、边一林,IEC 前言,1) I E C (国际电工委员会)是由各国家电工委员会(IEC国家委员会)组成的世界性标,准化组织。EEC的目的是促进电工电子领域中标准化问题的国际合作。为此目的，除其他活,动外，EEC发布国际标准。国际标准的制定由技术委员会承担，对所涉及内容关切的任何,EEC国家委员会均可参加国际标准的制定工作。与IEC有联系的任何国际、政府和非官方组,织也可以参加国际标准的制定，EEC与国际标准化组织(ISO)根据两组织间协商确定的条,件保持密切的合作关系,2) EE C 在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加,的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见,3) 这 些 决议或协议以标准、技术报告或导则的形式发布，以推荐的形式供国际上使用,并在此意义上，为各国家委员会认可,4) 为 了 促进国际上的统一，各EEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用,IEC标准。IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异均应在国家或地区标准中指明,国 际 标 准IEC444- 6 由EEC第49(频率控制和选择用压电和介电器件)技术委员会制,定,本标 准 构 成石英晶体元件参数测量系列标准的第6部分,第 1部 分 :二型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法，出版,为IEC444一1 (1986年第二版),第 2部 分 :测量石英晶体元件动态电容相位偏置法，出版为IEC444- 2 (1986年版),第 3部 分 :有并电容Ca补偿的二型网络相位法测量频率达200MHz的石英晶体元件两,端网络参数的基本方法，出版为IEC444一3 (1986年版),第 4部 分 :频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率.h和负载谐振电阻凡的测量方法,及其他导出参数的计算，出版为】EC444一4 (1988年版),第 5部 分 :采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数测量晶体元件的基准方,法，出版为IEC444一5 (1995年版),本 标 准 文本以下列文件为依据:,国际标准草案表决报告,49 (CO) 27……
……